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光学测量装置用自动进样清洗系统及光学测量装置

摘要

本实用新型提供一种光学测量装置用自动进样清洗系统及光学测量装置。光学测量装置用自动进样清洗系统,包括样品池、第一泵、第二泵、第一阀和第二阀;样品池的上端与第一泵的出口连通在一起,下端与第二泵的出口连通在一起;所述第一阀的进口通过三通管与第一泵和样品池之间的管道连通;所述第二阀的进口通过三通管与第二泵和样品池之间的管道连通。通过设置第一泵和第二泵,利用压力原理配合阀门的开合,使样品池的残液能都从上往下自动排出,实现完全清除样品池残液,从而提高测量的准确度。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-10-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/15 授权公告日:20110330 终止日期:20110816 申请日:20100816

    专利权的终止

  • 2011-03-30

    授权

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