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基于干涉条纹形状的二维小角度测量装置

摘要

本实用新型涉及一种基于干涉条纹形状的二维小角度测量装置,属于精密测量技术领域。该装置包括激光器、分光镜、目标反射镜、参考反射镜和四象限接收器,目标反射镜固定在被测物体上。激光调制器对激光器发出的光束进行调制,被调制的光束经分光镜后分为两束,分别经目标反射镜和参考反射镜反射后再返回分光镜,会聚产生动态干涉条纹,当被测物体沿z轴有角度变化时,动态干涉条纹的宽度将发生变化,当被测物体沿x轴有角度变化时,动态干涉条纹的宽度和方向同时改变。动态干涉条纹用四象限光电接收器接收后转为电信号,该信号经电流-电压转换后采集到计算机中,通过分析条纹宽度和方向的变化量,计算出被测物体沿x轴、z轴的角度变化量。本装置的优点在于采用波长调制法,重复性好、抗干扰能力强,并且结构简单、体积小、精度高,精度可达0.03arcsec。

著录项

  • 公开/公告号CN201463847U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2010-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖北工业大学;

    申请/专利号CN200920085527.3

  • 申请日2009-05-06

  • 分类号G01B11/26(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 430068 湖北省武汉市武昌南湖李家墩1村特1号

  • 入库时间 2022-08-21 23:09:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-07-11

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B11/26 授权公告日:20100512 终止日期:20110506 申请日:20090506

    专利权的终止

  • 2010-05-12

    授权

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