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CCD线阵相机精密检校装置

摘要

一种CCD线阵相机精密检校装置,属于CCD相机的精密检校领域,解决了CCD线阵相机精密检校中控制点的确定问题。在整体支架上放置检测图形平面载体,检测图形置于检测图形平面载体上,整体支架水平调整装置位于整体支架的底部,与整体支架相连;在整体支架上安装两条相互平行的精密导轨;检测图形平面载体通过两个导轨滑动块悬于两精密导轨上;检测图形平面载体顶部设计有高精度水准气泡;驱动电机通过丝杠与导轨滑动块相连,带动检测图形平面载体沿精密导轨移动;载体位移编码器与电机同轴连接。通过用不同位置上得到的若干组CCD线阵相机测量数据和相应的控制点的空间坐标数据可求解CCD相机的投影中心、方位、姿态参数。

著录项

  • 公开/公告号CN201436557U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2010-04-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京四维远见信息技术有限公司;

    申请/专利号CN200820178123.4

  • 发明设计人 叶泽田;

    申请日2008-11-20

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100039 北京市海淀区北太平路16号

  • 入库时间 2022-08-21 23:08:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-01-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01C25/00 授权公告日:20100407 终止日期:20121120 申请日:20081120

    专利权的终止

  • 2010-04-07

    授权

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