法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2012-08-08
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R31/28 授权公告日:20100310 终止日期:20110608 申请日:20090608
专利权的终止
2010-03-10
授权
授权
机译: 用于测试电子元件或电路板的接触方法-使用可相对于支撑被测元件或电路板的测量台自由移动的测试模块来匹配电子元件或电路板的尺寸
机译: 生产方法包括主动和被动测微辐射计的热辐射测微辐射计的检测装置
机译: 用于检测物体微磁场或微电场的单元-在真空室中使用电子显微镜,电子束被引导通过被测物体的磁场