公开/公告号CN103543130B
专利类型发明专利
公开/公告日2016-04-13
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院光电技术研究所;
申请/专利号CN201310483402.7
申请日2013-10-15
分类号G01N21/63(20060101);
代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;
代理人杨学明;卢纪
地址 610209 四川省成都市双流350信箱
入库时间 2022-08-23 09:38:33
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-01-11
专利权的转移 IPC(主分类):G01N 21/63 登记生效日:20181221 变更前: 变更后: 申请日:20131015
专利申请权、专利权的转移
2016-04-13
授权
授权
2016-04-13
授权
授权
2014-03-12
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/63 申请日:20131015
实质审查的生效
2014-03-12
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/63 申请日:20131015
实质审查的生效
2014-01-29
公开
公开
2014-01-29
公开
公开
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机译: 标记基因库,评估化合物或材料的紫外线的修复和/或治疗保护作用的方法,具有紫外线保护,修复或治疗作用的化合物或材料,改善和/或治疗,逆转和/或修复的方法光损伤或光老化的皮肤,并评估一种物质是否可以修复或逆转与紫外线辐射,光修复或逆转作用或光老化,组成或配方有关的物质或材料的光损伤或光老化的影响,光保护或光保护或抗光老化制剂,评估暴露于uv辐射后皮肤损伤或紫外线引起的皮肤置换,预防光老化或光变皮肤,鉴定或选择对皮肤光老化有用或高度敏感的个体的方法暴露于紫外线辐射后发生光老化,以及用于评估光老化或光敏性的试剂盒
机译: 在晶体管器件的情况下,具有减小的由热电荷载流子引起的影响的半导体组件以及用于减小由热电荷载流子引起的影响的数量的方法
机译: 应力评估方法,消除材料特性测量中的温度影响和滞后