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振动法测量弱磁场梯度的探头

摘要

本实用新型公开了一种振动法测量弱磁场梯度的探头装置,所述的探头包括外壳、振动部件和磁传感器,其中振动部件为悬臂梁结构的压电双晶片,磁传感器安装在压电双晶片的自由端;传感器用于测量磁场强度,可以是线圈、集成线性霍尔元件、磁阻或者为巨磁阻传感器。压电双晶片加恒定频率的交变电压后带动传感器振动,完成振动法测量磁场梯度的功能。本实用新型探头具有结构简单、体积小、测量灵敏度高、成本低等优点;可用于测量弱磁场梯度的任何场所。

著录项

  • 公开/公告号CN201063056Y

    专利类型

  • 公开/公告日2008-05-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京农业大学;

    申请/专利号CN200720043288.6

  • 发明设计人 蹇兴亮;

    申请日2007-08-20

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 210095 江苏省南京市玄武区卫岗1号

  • 入库时间 2022-08-21 22:58:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-10-31

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R33/022 授权公告日:20080521 终止日期:20110820 申请日:20070820

    专利权的终止

  • 2008-05-21

    授权

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