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双光路自准直镀膜厚度光学监控装置

摘要

本实用新型涉及一种监控镀膜的镜面反射率的双光路自准直镀膜厚度光学监控装置,为了解决实现透射与反射监控模式间转换、消除系统漂移问题,本装置采用了由斜面镀有反射膜的直角分束棱镜(7)和直角反射棱镜(8)构成的分光元件(15),在直角分束棱镜(7)上还覆盖一条挡光铝箔(13),真空室(11)内安装自准直透镜(5)和比较片(6)。通过光闸(9)的上下往复运动,分别挡住参考光束和信号光束,形成双光路选择,参考光束和信号光束通过透镜L3将光信号聚焦到单色仪(12)上。由于本装置可以方便地取下直角分束棱镜(7)和自准直透镜(5),不但实现透射与反射监控模式间转换、光斑小、光量利用率高,而且结构简单、维护方便、成本低,消除了系统漂移的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN2788123Y

    专利类型

  • 公开/公告日2006-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 闫宏;

    申请/专利号CN200520001491.8

  • 发明设计人 闫宏;

    申请日2005-01-26

  • 分类号G01B11/06(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100081 北京市北京理工大学25楼99单元10号

  • 入库时间 2022-08-21 22:50:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-04-08

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2006-06-14

    授权

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