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可在室温下工作的具有高集成度的单电子存储器

摘要

本实用新型涉及具有高集成度的单电子存储器,包括:以硅作为衬底,其表面氧化形成二氧化硅绝缘层,在其上设置栅极、电极和数据线引脚;其中两个电极、一个栅极和数据线引脚,是由位于二氧化硅绝缘层上的导电层形成的;两个电极具有间距;一碳纳米管在两个电极之上,与两个电极欧姆接触;栅极位于两个电极的一侧;并在衬底的另一边设置数据线引脚;另一根碳纳米管在栅极和数据线引脚之上,并与两者欧姆接触;碳纳米管上有两个隧穿结,二者之间形成碳纳米管上的一个量子点。该方法制备出的量子点可以在室温下出现库仑阻塞现象,因此器件可在室温下工作,通过测量碳纳米管晶体管的电流可以实现存储器数据的读出。

著录项

  • 公开/公告号CN2566464Y

    专利类型

  • 公开/公告日2003-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN02240126.1

  • 发明设计人 孙劲鹏;王太宏;

    申请日2002-07-11

  • 分类号H01L27/04;H01L27/10;

  • 代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人王凤华

  • 地址 100080 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2022-08-21 22:44:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-06-28

    其他有关事项避免重复授权放弃专利权 放弃生效日:20060426 申请日:20020711

    其他有关事项避免重复授权放弃专利权

  • 2003-08-13

    授权

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