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高灵敏度长度测量干涉仪

摘要

本实用新型提供了一种高灵敏度长度测量用的干涉仪,适合于测量长度、微小位移量。它是在G·W·stroke干涉仪上,增加了棱镜和平面反射镜。它在不需电子倍频装置的情况下,可使测量格值为任意值。通过增减棱镜的个数,满足不同测量灵敏度的要求。

著录项

  • 公开/公告号CN86202036U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日1987-04-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京光学仪器厂;

    申请/专利号CN86202036

  • 发明设计人 吴振华;

    申请日1986-04-12

  • 分类号G01B9/02;G01B11/02;

  • 代理机构北京仪器仪表专利事务所;

  • 代理人王树政

  • 地址 北京市通县北京光学仪器厂

  • 入库时间 2022-08-21 22:31:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1987-10-14

    授权

    授权

  • 1987-04-01

    公开

    公开

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