法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-02-24
授权
授权
2014-07-16
实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20140312
实质审查的生效
2014-06-25
公开
公开
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: X射线荧光光谱仪设备具有检测器,该检测器用于接收和分析从样品上的预定目标位置发出的荧光束,该荧光束是由初级X射线束激发的结果
机译: 提供用于X射线束的光谱过滤的掩模版,X射线系统,用于X射线束的光谱过滤的方法,计算机程序以及用于X射线束的计算机可读介质