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晶片的热处理方法、硅晶片的制造方法、硅晶片及热处理装置

摘要

本发明是一种晶片的热处理方法,其在利用支撑部件来支撑晶片的主表面即第一主表面的状态下,以加热源进行加热,从而进行在规定温度下的伴随快速升降温的热处理,其特征在于,一边控制前述加热源一边进行热处理,以使由前述支撑部件所支撑的前述第一主表面的温度比前述晶片的前述第一主表面的相反侧的主表面即第二主表面的温度更高1~25℃。由此,本发明提供一种晶片的热处理方法,其能在对硅晶片进行热处理时,确实地抑制自晶片支撑位置发生的滑动位错。

著录项

  • 公开/公告号CN103069545B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 信越半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN201180039907.3

  • 发明设计人 江原幸治;冈铁也;高桥修治;

    申请日2011-07-15

  • 分类号

  • 代理机构隆天知识产权代理有限公司;

  • 代理人张永康

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:35:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-02

    授权

    授权

  • 2013-05-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/26 申请日:20110715

    实质审查的生效

  • 2013-04-24

    公开

    公开

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