用于功能验证多管芯3D IC的系统和方法

摘要

公开了一种用于功能验证多管芯3D？IC的系统和方法。该系统和方法包括：用于独立测试管芯叠层内的每一个管芯的可重复利用的验证环境，而不需要同时运行叠层内的所有管芯。系统和方法包括将来自管芯验证测试的输入/输出(“IO”)轨迹从第一格式转换为第二格式，以提高性能。