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一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法

摘要

一种基于短脉冲激光透反射信号的球形颗粒光谱复折射率测量方法,属于颗粒光学特性测量技术领域,解决了现有的球形颗粒光谱复折射率测量方法仍然存在测量过程复杂和精确度低的问题。本发明所述方法利用短脉冲激光辐照均匀球形颗粒系,测量颗粒系的反射信号和透射信号,用粒度分析仪测量颗粒系的粒径分布情况,运用Mie理论模型结微粒群优化算法反演得到颗粒的光谱复折射率,本发明适用于测量颗粒的光谱复折射率。

著录项

  • 公开/公告号CN103487356B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201310467042.1

  • 申请日2013-10-09

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人岳泉清

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:33:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    授权

    授权

  • 2014-02-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/00 申请日:20131009

    实质审查的生效

  • 2014-01-01

    公开

    公开

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