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扫描电镜的电子束的检测方法、微细图形的检测方法

摘要

一种扫描电镜的电子束的检测方法、微细图形的检测方法,其中,本发明的扫描电镜的电子束的检测方法,包括:提供检测样品,检测样品表面形成有沿第一方向的直线图形;提供相同曝光工艺下标准模型的功率谱密度曲线;通过扫描电镜获取检测样品的直线图形的边缘轮廓;以固定采样频率对检测样品的直线图形的边缘轮廓进行采样,得到各采样点处的直线图形沿第二方向的变化幅度;根据所述变化幅度,得到检测样品的功率密度曲线;比较检测样品的功率密度曲线和标准模型的功率密度曲线,判断电子束在第二方向上的质量是否合格。本发明实施例中检测电子束的检测结果更为准确。采用经本发明实施例检测合格的电子束,检测微细图形,获得的尺寸精确。

著录项

  • 公开/公告号CN103809197B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201210455060.3

  • 发明设计人 蔡博修;

    申请日2012-11-13

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人骆苏华

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:33:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-06

    授权

    授权

  • 2014-06-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T1/29 申请日:20121113

    实质审查的生效

  • 2014-05-21

    公开

    公开

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