用于存储器验证的内部数据比较的方法及装置

摘要

本发明涉及用于存储器验证的内部数据比较。公开了一种将数据编程到非易失性存储器阵列的行中并且在所述非易失性存储器阵列内部验证所述数据被成功地编程的方法和装置。所述验证包括将来自于非易失性存储器阵列的所述行的所编程的数据与用于对所述行编程的多个高电压页锁存器中的数据相比较。