首页> 中国专利> 检测介质厚度变化和/或补偿其引起的球形像差的拾取器

检测介质厚度变化和/或补偿其引起的球形像差的拾取器

摘要

提供了一种光学拾取器,其中的光束划分与检测装置,用于划分从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束,该装置被构建成具有分结构的单个光检测器、或光束划分器和多个光检测器,所述光检测器能够考虑到由记录介质的厚度变化引起的光强度分布的变化,划分从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束并检测划分的光束部分。该光学拾取器允许检测记录介质的厚度变化,而无需在该光学拾取器的光接收侧安装散光镜。由记录介质的厚度变化引起的球形像差能够通过使用执行器根据检测的厚度变化信号驱动球形像差补偿单元或校准镜沿着光轴来校正。

著录项

  • 公开/公告号CN1183524C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2005-01-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN01133018.X

  • 发明设计人 郑钟三;安荣万;金泰敬;徐偕贞;

    申请日2001-09-13

  • 分类号G11B7/12;G11B7/135;G11B7/09;

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人黄小临

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11B 7/12 授权公告日:20050105 终止日期:20160913 申请日:20010913

    专利权的终止

  • 2005-01-05

    授权

    授权

  • 2005-01-05

    授权

    授权

  • 2002-07-31

    公开

    公开

  • 2002-07-31

    公开

    公开

  • 2002-02-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2002-02-20

    实质审查的生效

    实质审查的生效

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