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基于声压反射系数自相关函数的薄层厚度超声检测方法

摘要

一种基于声压反射系数自相关函数的薄层厚度超声检测方法,属于无损检测技术领域。该方法使用超声脉冲回波技术和声压反射系数自相关信号处理方法进行薄层厚度测量。首先使用超声脉冲回波系统采集一个包含薄层上表面和下表面的反射回波信号,再采集一个标准试块的上表面回波信号。然后分别对采集到的信号进行快速傅里叶变换,求出薄层声压反射系数自相关函数。最后在自相关函数中读取各极大值对应的频率,并结合材料声速计算得到薄层厚度。本方法克服了传统的超声干涉测厚法必须能够读取信号频谱中两个谐振频率才能准确获得薄层厚度的局限性,具有测量精度高、可操作性强、设备成本低、适应范围广等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN103148815B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201310036748.2

  • 申请日2013-01-30

  • 分类号G01B17/02(20060101);

  • 代理机构21208 大连星海专利事务所;

  • 代理人花向阳

  • 地址 116024 辽宁省大连市高新园区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:32:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-23

    授权

    授权

  • 2013-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B17/02 申请日:20130130

    实质审查的生效

  • 2013-06-12

    公开

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