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显示屏的厚度均匀性检测方法、装置及系统

摘要

本发明公开了一种显示屏的厚度均匀性检测方法、装置及系统,以准确检测出显示屏的厚度异常位置,提高产品的可管控性。检测方法包括:提取显示屏显示单色画面时每一条摩尔纹的最低亮度曲线;计算每一条最低亮度曲线的横向平均位置坐标;计算每一条最低亮度曲线上设定离散点的横向位置坐标相对横向平均位置坐标的偏离值;针对每一条最低亮度曲线,当所述偏离值超出设定的允许偏离范围时,根据所述偏离值对应的离散点坐标确定显示屏的厚度异常位置。

著录项

  • 公开/公告号CN104019752B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-11-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 京东方科技集团股份有限公司;

    申请/专利号CN201410234495.4

  • 发明设计人 朱劲野;

    申请日2014-05-29

  • 分类号

  • 代理机构北京同达信恒知识产权代理有限公司;

  • 代理人杜秀科

  • 地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

  • 入库时间 2022-08-23 09:32:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-11-25

    授权

    授权

  • 2014-10-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 申请日:20140529

    实质审查的生效

  • 2014-09-03

    公开

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