首页> 中国专利> 一种原位测量纳米器件的透射电镜样品台

一种原位测量纳米器件的透射电镜样品台

摘要

本发明公开了一种原位测量纳米器件的透射电镜样品台,包括金属纳米探针、绝缘堵片和样品支撑台,所述绝缘堵片的正反表面分别设有多个金属电极,且对应的金属电极之间通过金属化通孔实现导电连接;所述样品支撑台一端与绝缘堵片连接,另一端设有取样区和测试区,所述测试区为设在样品支撑台表面并悬空的金属电极,样品支撑台的金属电极与绝缘堵片的金属电极为导电连接;所述金属纳米探针、测试区金属电极和被测样品构成三端场效应晶体管。本发明能够在原子尺度的分辨率下观察样品并实时进行电学测量,原位揭示待测单元的电学性能和纳米结构变化。

著录项

  • 公开/公告号CN103531424B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-12-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东南大学;

    申请/专利号CN201310477205.4

  • 申请日2013-10-14

  • 分类号

  • 代理机构南京苏高专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人王华

  • 地址 210096 江苏省南京市玄武区四牌楼2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:31:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-10-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01J37/20 授权公告日:20151202 终止日期:20181014 申请日:20131014

    专利权的终止

  • 2015-12-02

    授权

    授权

  • 2014-02-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/20 申请日:20131014

    实质审查的生效

  • 2014-01-22

    公开

    公开

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