大规模集成电路加速器单粒子试验中粒子注量率选择方法

摘要

大规模集成电路加速器单粒子试验中粒子注量率选择方法，具体为：判断所述大规模集成电路内部是否采DICE设计，若采用了DICE设计，则按ASTMF1192标准规定，对所述大规模集成电路采用高注量率辐照；否则通过大规模集成电路所使用的程序判断所述大规模集成电路是否采用TMR，若采用了TMR，则对所述大规模集成电路采用低注量率辐照，否则通过大规模集成电路所使用的程序判断所述大规模集成电路是否采用EDAC，若采用了EDAC，则对所述大规模集成电路采用低注量率辐照，否则对所述大规模集成电路采用高注量率辐照。本发明比以往只用高注量率辐照，提高了辐照评估准确度。