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升级冶金级硅原料的质量控制方法

摘要

本发明提供一种用于确定UMG-Si原料批中的硼和磷浓度的质量控制方法。通过来自于UMG-Si原料批的熔化UMG-Si的定向固化形成硅测试锭。测量所述硅测试锭的自上而下的电阻率。然后,映射所述硅测试锭的电阻率分布。基于所述硅测试锭的所述电阻率分布,计算所述UMG-Si硅原料批的磷和硼浓度。此外,可以在多炉腔晶体生长器中同时生长多个测试锭,其中每个测试锭对应于一个UMG-Si原料批。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 29/06 授权公告日:20150826 终止日期:20160429 申请日:20100429

    专利权的终止

  • 2015-08-26

    授权

    授权

  • 2012-10-03

    著录事项变更 IPC(主分类):H01L 29/06 变更前: 变更后: 申请日:20100429

    著录事项变更

  • 2012-09-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/06 申请日:20100429

    实质审查的生效

  • 2012-07-18

    公开

    公开

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