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一种全反射X射线荧光光谱仪

摘要

本发明提出了一种全反射X射线荧光光谱仪,包括:样品室,其包括用于盛放样品的样品台、样品定位装置和用于探测所述样品受X射线照射时产生的荧光的探测器;X射线管发生装置,用于发射X射线照射至所述样品,所述X射线入射至所述样品的入射角<0.1°;单色器装置,用于将所述X射线形成单色光;控制装置,用于接收所述探测器探测到的所述样品产生的荧光和分析所述样品中的元素及含量。本发明提出的一种全反射X荧光光谱仪,其以小于0.1°的角掠入射,整形成条状的原级束被全反射,用于微量样品和痕量元素化学分析。

著录项

  • 公开/公告号CN103323478B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杨东华;

    申请/专利号CN201310190082.6

  • 发明设计人 杨东华;

    申请日2013-05-21

  • 分类号G01N23/223(20060101);

  • 代理机构北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人郑自群

  • 地址 341600 江西省赣州市信丰县嘉定镇老屋里村杨屋43号

  • 入库时间 2022-08-23 09:28:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-14

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/223 授权公告日:20150729 终止日期:20160521 申请日:20130521

    专利权的终止

  • 2015-07-29

    授权

    授权

  • 2015-07-29

    授权

    授权

  • 2013-10-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20130521

    实质审查的生效

  • 2013-10-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20130521

    实质审查的生效

  • 2013-09-25

    公开

    公开

  • 2013-09-25

    公开

    公开

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