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半导体晶片的加工方法、加工装置以及半导体晶片

摘要

本发明提供半导体晶片的加工方法、加工装置以及半导体晶片。通过实施例公开半导体晶片加工方法。该方法包括以下工序:用第一砂轮或刀片对在表面形成有半导体元件的半导体晶片背面的外缘部进行研磨以形成环状的槽的工序;用第二砂轮对所述槽内侧的凸部进行研磨以在所述半导体晶片的背面与所述槽一体地形成凹部的工序;和用第三砂轮进一步对包含由所述第二砂轮研磨出的研磨面的所述凹部的底面进行研磨的工序。

著录项

  • 公开/公告号CN102848303B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社东芝;

    申请/专利号CN201210069407.0

  • 发明设计人 田久真也;清水纪子;藤田努;

    申请日2012-03-15

  • 分类号B24B37/10(20120101);B24B9/06(20060101);H01L21/304(20060101);

  • 代理机构11247 北京市中咨律师事务所;

  • 代理人陈海红;段承恩

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:27:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-22

    专利权的转移 IPC(主分类):B24B 37/10 登记生效日:20170802 变更前: 变更后: 申请日:20120315

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-07-15

    授权

    授权

  • 2015-07-15

    授权

    授权

  • 2013-02-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B 37/04 申请日:20120315

    实质审查的生效

  • 2013-02-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B 37/04 申请日:20120315

    实质审查的生效

  • 2013-01-02

    公开

    公开

  • 2013-01-02

    公开

    公开

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