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包含加热步骤、处理步骤和冷却步骤的热处理方法

摘要

本发明涉及一种处理方法,尤其是在反应器壳体(1,2,3)的处理室(4)内对工件,尤其是半导体基板(19)进行镀覆的方法,所述处理室(4)构成可被加热装置(15)加热且具有用于安置所述工件的基座(5)的处理室底部(9)和可被冷却装置(23)冷却的处理室顶部(10),其中,由处理室顶部(10)与处理室底部(9)的间距所界定的处理室高度(H)是可变的,其中,在加热步骤中,将基座(5)从所述处理室装卸所述工件时的装料/卸料温度加热至处理温度,在之后的处理步骤中,在处理温度下对所述工件进行热处理,随后在冷却步骤中,将基座冷却至装料/卸料温度。为了缩短循环时间推荐,在冷却步骤时使处理室高度(H)取其最小值。

著录项

  • 公开/公告号CN102947483B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 艾克斯特朗欧洲公司;

    申请/专利号CN201180029125.1

  • 发明设计人 J·凯普勒;

    申请日2011-04-08

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人侯宇

  • 地址 德国黑措根拉特

  • 入库时间 2022-08-23 09:26:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-06-03

    授权

    授权

  • 2013-04-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C 16/458 申请日:20110408

    实质审查的生效

  • 2013-02-27

    公开

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