用于液晶显示器来源驱动器的内建自测试电路及方法

摘要

本发明涉及一种液晶显示器(LCD)来源驱动器的内建自测试(built-inself-test，BIST)电路及方法，所述电路包括：至少一数字模拟转换器(DAC)；和至少一缓冲器，其耦接到个别DAC，其中该缓冲器可重新配置为一比较器。一第一输入信号和一第二输入信号耦接到该比较器。该第一输入信号是一预定参考电压水平。第二输入信号是在一测试偏移范围内的一测试电压。