公开/公告号CN102313870B
专利类型发明专利
公开/公告日2015-05-06
原文格式PDF
申请/专利权人 上海芯豪微电子有限公司;
申请/专利号CN201010223509.4
发明设计人 林正浩;
申请日2010-07-05
分类号G01R31/303(20060101);
代理机构
代理人
地址 200092 上海市杨浦区四平路1398号B座1202
入库时间 2022-08-23 09:25:48
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-09
专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R31/303 变更前: 变更后: 申请日:20100705
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2015-05-06
授权
授权
2015-05-06
授权
授权
2013-08-07
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/303 申请日:20100705
实质审查的生效
2013-08-07
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/303 申请日:20100705
实质审查的生效
2012-01-11
公开
公开
2012-01-11
公开
公开
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机译: 能够并行测试多个微电子电路的集成电路并行测试方法,装置及其系统
机译: 集成电路并行测试方法,装置和系统
机译: 用于执行半导体集成电路测试方法的半导体集成电路的测试方法,用于半导体集成电路的测试设备,标准电路板以及用于执行测试方法的直流系统继电器