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使用阿尔法步进光刻机生产无图案衬底以保证效果的工艺

摘要

本发明提供了一种用于制造集成电路的方法。该方法包括:处理衬底的第一表面以制造集成电路,以及研磨衬底的第二表面以去除材料直到衬底基本接近于所期望的厚度。该方法还包括在衬底的第二表面上方进行湿刻蚀工艺,并且在衬底的第二表面上方进行化学机械抛光(CMP)工艺,以去除衬底上的图案。使用计量仪器检验衬底的第二表面以确定第二表面是否基本平滑;如果第二表面不是基本平滑的,则重复进行CMP工艺和使用计量仪器检验第二表面的步骤,直到第二表面基本平滑。本发明还提供了一种使用阿尔法步进光刻机生产无图案衬底以保证效果的工艺。

著录项

  • 公开/公告号CN102044489B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN201010203807.7

  • 发明设计人 翁伟智;蔡妙欣;黄薰莹;

    申请日2010-06-12

  • 分类号

  • 代理机构北京德恒律师事务所;

  • 代理人孙征

  • 地址 中国台湾新竹

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-13

    授权

    授权

  • 2011-06-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/77 申请日:20100612

    实质审查的生效

  • 2011-05-04

    公开

    公开

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