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基于正交双光栅的同步移相共光路干涉显微检测装置及检测方法

摘要

基于正交双光栅的同步移相共光路干涉显微检测装置及检测方法,属于光学干涉检测技术领域。它解决了现有同步相移干涉显微检测方法中,对检测数据进行处理的过程复杂并且测量精度低的问题。它将干涉显微技术和正交双光栅共光路分光同步移相技术相结合,将准直扩束后的线偏振平行光经第一偏振分光棱镜和第二偏振分光棱镜分成物光和参考光后最终并排汇合于矩形窗口,计算机通过采集获得一幅含有四个图样的干涉图,最终根据四幅干涉图样的强度分布计算获得待测物体的相位分布。本发明适用于微小物体三维形貌和位相分布测量。

著录项

  • 公开/公告号CN102865811B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工程大学;

    申请/专利号CN201210374744.0

  • 申请日2012-09-29

  • 分类号G01B9/04(20060101);G01B11/26(20060101);

  • 代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人张宏威

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号(哈尔滨工程大学体育部)

  • 入库时间 2022-08-23 09:25:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-15

    授权

    授权

  • 2013-02-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 9/04 申请日:20120929

    实质审查的生效

  • 2013-01-09

    公开

    公开

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