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一种光电成像系统性能评估实验分析方法

摘要

本发明涉及一种光电成像系统性能评估实验分析方法,包括以下步骤:建立光电成像系统性能预测模型;在性能预测模型中划分输入因素集和输出指标集;对输入因素集进行筛选实验;根据筛选实验结果划分模型输入因素水平,建立模型输入因素水平表;根据模型输入因素水平表,选取正交表,形成实验方案;调用性能预测模型计算各实验方案对应的输出指标集;利用输出指标集进行极差分析和灵敏度分析,结束本次实验分析过程。本发明方法可以以最少的实验次数全面、典型、均衡可比的反映实验输入各因素对实验指标的影响,通过极差法分析确定各输入因素的最优水平和对输出指标的影响的主次关系,同时采用灵敏度分析法分析输入因素对输出指标的敏感程度。

著录项

  • 公开/公告号CN102567608B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院沈阳自动化研究所;

    申请/专利号CN201010610980.9

  • 申请日2010-12-29

  • 分类号

  • 代理机构沈阳科苑专利商标代理有限公司;

  • 代理人李晓光

  • 地址 110016 辽宁省沈阳市东陵区南塔街114号

  • 入库时间 2022-08-23 09:24:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-08

    授权

    授权

  • 2012-09-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 19/00 申请日:20101229

    实质审查的生效

  • 2012-07-11

    公开

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