公开/公告号CN102637652B
专利类型发明专利
公开/公告日2015-04-29
原文格式PDF
申请/专利权人 日月光半导体制造股份有限公司;
申请/专利号CN201210129004.0
发明设计人 邱基综;
申请日2012-04-27
分类号
代理机构上海专利商标事务所有限公司;
代理人陆勍
地址 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号
入库时间 2022-08-23 09:24:52
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-04-29
授权
授权
2012-10-03
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 23/31 申请日:20120427
实质审查的生效
2012-08-15
公开
公开
机译: 制造接触结构的方法,该结构用于测试可完全吸收负载压力的半导体封装,应用于半导体封装的接触结构,用于测试半导体封装的接触结构以及用于封装的半导体封装的方法
机译: 连接板的方法,使用该板制造电路板的方法,用于半导体封装的制造板的方法,用于制造半导体封装的方法,通过相同方法制造的电路板,用于半导体封装的板和半导体封装
机译: 用于半导体封装的凸块,应用该凸块的半导体封装以及制造该半导体封装的方法