一种多晶电池工艺水平及片源的评价方法

摘要

本发明提出了一种电池工艺及多晶硅片片源的评价方法。该方法利用电致发光或光致发光提取硅片中的缺陷信息，从而获得可用于表征硅片质量的量化参数。进一步，本发明基于所述量化参数，并结合电池开路电压V_oc测试，分离出电池工艺水平和多晶硅片片源对V_oc的影响大小。