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多晶硅的晶体取向度评价方法、多晶硅棒的选择方法、多晶硅棒、多晶硅块以及单晶硅的制造方法

摘要

利用X射线衍射法对多晶硅的晶体取向度进行评价时,将选取的圆板状试样20配置于对来自密勒指数面的布拉格反射进行检测的位置,以圆板状试样20的中心作为旋转中心使其以旋转角度φ进行面内旋转以使得由狭缝确定的X射线照射区域对圆板状试样20的主面上进行φ扫描,求出表示来自密勒指数面的布拉格反射强度对于圆板状试样20的旋转角度(φ)的依赖性的图表,由该图表求出基线,将该基线的衍射强度值用作晶体取向度的评价指标。本发明提供以高定量性和再现性来选择适合作为单晶硅制造用原料的多晶硅且有助于稳定地制造单晶硅的技术。

著录项

  • 公开/公告号CN104395740B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 信越化学工业株式会社;

    申请/专利号CN201380032180.5

  • 发明设计人 宫尾秀一;冈田淳一;祢津茂义;

    申请日2013-06-18

  • 分类号

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人杨海荣

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:44:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-10

    授权

    授权

  • 2015-08-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/20 申请日:20130618

    实质审查的生效

  • 2015-03-04

    公开

    公开

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