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微纳尺度材料赛贝克系数测量机构的制备方法

摘要

本发明提供一种微纳尺度材料赛贝克系数测量机构的制备方法,包括以下步骤:在衬底上设置隔离槽掩蔽层;制作隔离槽;设置介质支撑膜和释放阻挡带;在上述介质支撑膜上设置第一热偶条和加热电阻条;在上述第一热偶条和加热电阻条上方设置释放保护膜;设置电绝缘热导通结构;形成金属电极及金属连接线,形成第二热偶条;在上述已形成金属电极及金属连接线和第二热偶条的基底上设置腐蚀释放通道;利用腐蚀释放通道腐蚀衬底,得到用释放阻挡带封闭起来的热隔离腔体。本发明用于微纳尺度材料赛贝克系数测量。

著录项

  • 公开/公告号CN103043602B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-03-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江苏物联网研究发展中心;

    申请/专利号CN201310002846.4

  • 发明设计人 毛海央;欧文;欧毅;陈大鹏;

    申请日2013-01-05

  • 分类号B81C1/00(20060101);G01N25/00(20060101);G01N25/20(20060101);

  • 代理机构32104 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人曹祖良

  • 地址 214135 江苏省无锡市新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园C座

  • 入库时间 2022-08-23 09:24:16

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-03-18

    授权

    授权

  • 2013-05-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):B81C 1/00 申请日:20130105

    实质审查的生效

  • 2013-04-17

    公开

    公开

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