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针对输出电阻的端到端容差修正校准RDAC的方法和装置

摘要

本发明公开了一种用于校准RDAC以获取期望的电阻的系统和方法。在一个实施例中,一种从RDAC电路获取期望的电阻的方法包括:通过芯片上校准码引擎来接收包括数字码的数字信号,基于期望的RDAC和与所述校准码引擎相关联的RDAC的电阻相对于数字码的特性曲线来自动地导出校准数字码,以及将所述校准数字码输入到与所述校准码引擎相关联的所述RDAC中,以获取期望的电阻。所述方法还包括:形成所述期望的RDAC和所述RDAC的电阻相对于数字码的特性曲线,利用所形成的所述RDAC和所述期望的RDAC的电阻相对于数字码的特性曲线来计算增益误差和偏移误差,以及将所述增益误差和所述偏移误差存储在非易失性/易失性RDAC存储器中。

著录项

  • 公开/公告号CN102089982B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-03-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美国亚德诺半导体公司;

    申请/专利号CN200980121421.7

  • 发明设计人 D·贾因;K·K·吉哈;

    申请日2009-04-28

  • 分类号H03M1/10(20060101);H03M1/68(20060101);H03M1/76(20060101);

  • 代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人陈华成

  • 地址 美国马萨诸塞州

  • 入库时间 2022-08-23 09:24:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-03-11

    授权

    授权

  • 2011-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03M 1/10 申请日:20090428

    实质审查的生效

  • 2011-06-08

    公开

    公开

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