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一种面向巧合一致性问题的统计学软件缺陷定位方法

摘要

一种面向巧合一致性问题的统计学软件缺陷定位方法,它包括五个步骤:(1)对含有缺陷的程序插桩;(2)加载程序的测试用例,运行插桩后的程序;(3)收集程序运行成功和运行失败时桩函数的输出信息;(4)对收集到的谓词动态执行信息进行分析,包括计算谓词成功与失败执行谱分布的交叠程度、计算谓词执行谱分布的标准化类间距离、计算谓词可疑程度以及对谓词排序这四小步;(5)根据第四步中得到的谓词排序表,对谓词依序进行查找,直到找到缺陷相关谓词为止。该方法能有效避免巧合一致性的影响,定位效率高,而且方法简单,容易实现。

著录项

  • 公开/公告号CN102831065B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-02-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201210340190.2

  • 发明设计人 郑征;郝鹏;张震宇;蔡开元;

    申请日2012-09-13

  • 分类号

  • 代理机构北京慧泉知识产权代理有限公司;

  • 代理人王顺荣

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 09:23:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-02-04

    授权

    授权

  • 2013-02-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20120913

    实质审查的生效

  • 2012-12-19

    公开

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