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基于光度图的几何与表面材质的重建方法

摘要

本发明提供一种基于光度图的几何与表面材质的重建方法,该方法包括如下步骤:(1)材质分割,构造初始化材质权重图,估计Diffuse Albedo。(2)估计表面法向量图。(3)使用Alternating-Constrained-Least-Square方法迭代求解法向量和构建BRDF(bidirectional reflectance distribution function)材质基。(4)增强深度场。以法向量图为基础,通过解Poisson方程得到最小二乘的表面深度信息。本发明可以可靠的从一组已知光照条件的图片序列中,自动恢复出图中物体的不同材质区域、材质属性,以及表面深度信息,对其快速的进行三维重建。

著录项

  • 公开/公告号CN102819864B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201210288521.2

  • 发明设计人 齐越;胡勇;张梓峰;

    申请日2012-08-14

  • 分类号

  • 代理机构北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 09:22:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-02

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06T 17/00 授权公告日:20141217 终止日期:20180814 申请日:20120814

    专利权的终止

  • 2014-12-17

    授权

    授权

  • 2014-12-17

    授权

    授权

  • 2013-01-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T17/00 申请日:20120814

    实质审查的生效

  • 2013-01-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 17/00 申请日:20120814

    实质审查的生效

  • 2012-12-12

    公开

    公开

  • 2012-12-12

    公开

    公开

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