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场边次位线反或NOR快闪阵列以及其制造工艺方法

摘要

本发明提供一种场边次位线NOR快闪阵列以及其制造工艺方法。本发明场边次位线NOR快闪阵列,是利用和存储器单元的源极/漏极同一类型的杂质,来形成场边次位线。沿着场沟槽氧化物的二侧壁,场边次位线连接多个存储器单元的源极与漏极电极。通过设于中间转折点的电气接点,各场边次位线连接至对应的主位线。因为在被连接的存储器单元的源极/漏极并未包含任何电气接点,所以字元线间距及位线间距适用一特定半导体制造工艺技术时代的最小几何特征。本发明场边次位线NOR快闪阵列具有至少和已知NAND快闪存储器阵列一样高的单元面积密度。同时,本发明依然保留了相对于传统NAND快闪存储器的竞争优势:快速读/写速度以及低操作电压。

著录项

  • 公开/公告号CN102800678B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 闪矽公司;

    申请/专利号CN201210159412.0

  • 发明设计人 王立中;

    申请日2012-05-21

  • 分类号H01L27/115(20060101);H01L21/8247(20060101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人任默闻

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:22:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-06

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 27/115 登记生效日:20191119 变更前: 变更后: 申请日:20120521

    专利申请权、专利权的转移

  • 2019-04-12

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/115 变更前: 变更后: 申请日:20120521

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2019-04-12

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/115 变更前: 变更后: 申请日:20120521

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2019-04-12

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/115 变更前: 变更后: 申请日:20120521

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2019-04-12

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 27/115 变更前: 变更后: 申请日:20120521

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2015-11-04

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L27/115 登记生效日:20151014 变更前: 变更后: 申请日:20120521

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-11-04

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L27/115 登记生效日:20151014 变更前: 变更后: 申请日:20120521

    专利申请权、专利权的转移

  • 2015-11-04

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 27/115 登记生效日:20151014 变更前: 变更后: 申请日:20120521

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-12-10

    授权

    授权

  • 2014-12-10

    授权

    授权

  • 2014-12-10

    授权

    授权

  • 2013-01-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/115 申请日:20120521

    实质审查的生效

  • 2013-01-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/115 申请日:20120521

    实质审查的生效

  • 2013-01-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/115 申请日:20120521

    实质审查的生效

  • 2012-11-28

    公开

    公开

  • 2012-11-28

    公开

    公开

  • 2012-11-28

    公开

    公开

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