首页> 中国专利> 等离子体包覆材料的雷达反射特性测量装置及方法

等离子体包覆材料的雷达反射特性测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种等离子体包覆材料的雷达反射特性测量装置及方法,该装置包括:大面积匀非磁化等离子体产生单元、雷达散射截面测量机构、微波暗室、支撑导轨、支撑滑块、被测材料板、吸波材料,大面积均匀非磁化等离子体产生单元、雷达散射截面测量机构固定在微波暗室内,大面积均匀非磁化等离子体产生单元由吸波材料包围在一个空间内,吸波材料有一个窗口,使大面积均匀非磁化等离子体产生单元的被测材料板直面雷达散射截面测量机构。它是一种能够在被测材料表面包覆等离子,并进一步实现等离子厚度可调以及削弱本体的雷达回波反射,从而满足开展等离子包覆材料的雷达反射特性实验测量的装置及方法。

著录项

  • 公开/公告号CN102809577B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-12-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201210257142.7

  • 申请日2012-07-24

  • 分类号

  • 代理机构西安吉盛专利代理有限责任公司;

  • 代理人张培勋

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学

  • 入库时间 2022-08-23 09:22:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-12-03

    授权

    授权

  • 2013-01-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/20 申请日:20120724

    实质审查的生效

  • 2012-12-05

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号