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BiCMOS工艺中的PN结变容器及制造方法

摘要

本发明公开了一种BiCMOS工艺中的PN结变容器,包括一N型区、P型区和一N型赝埋层。N型区和P型区形成于有源区中并相接触形成PN结,P型区处于N型区的上部。N型赝埋层形成于有源区两侧的浅槽场氧的底部并和N型区相接触,通过在N型赝埋层顶部的浅槽场氧中形成深孔接触引出N型区。本发明还公开了一种BiCMOS工艺中的PN结变容器的制造方法。本发明器件能大大减少器件的面积、减少器件的传导电阻,同时还能保持良好的器件性能,还能作为BiCMOS高频电路中的输出器件。

著录项

  • 公开/公告号CN102544119B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201010585008.0

  • 发明设计人 陈帆;陈雄斌;

    申请日2010-12-13

  • 分类号

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁纪铁

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2022-08-23 09:19:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-09

    授权

    授权

  • 2014-02-05

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L 29/93 变更前: 变更后: 登记生效日:20140107 申请日:20101213

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/93 申请日:20101213

    实质审查的生效

  • 2012-07-04

    公开

    公开

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