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响应于外部地址来替代有缺陷存储器块

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摘要

本发明提供电子系统及操作存储器装置的方法。在一个此种实施例中，存储器装置(100)接收外部地址，所述外部地址代替所述存储器装置(100)的存储器块序列(210)中的有缺陷存储器块(210

1. 响应于外部地址来替代有缺陷存储器块 [P] . 中国专利： CN102216913B . 2014.06.18
2. 缓冲存储器地址变换装置、扇区地址信息可靠性判断装置、缺陷扇区判断装置、ECC块同步检测装置、光盘重放装置、媒体及程序 [P] . 中国专利： CN1383556A . 2002-12-04
3. REPLACING DEFECTIVE MEMORY BLOCKS IN RESPONSE TO EXTERNAL ADDRESSES [P] . 欧洲知识产权局专利： EP2356572B1 . 2017-10-04

机译：响应于外部地址，替换有缺陷的内存块
4. REPLACING DEFECTIVE MEMORY BLOCKS IN RESPONSE TO EXTERNAL ADDRESSES [P] . 欧洲知识产权局专利： EP2356572A4 . 2013-12-18

机译：响应于外部地址，替换有缺陷的内存块
5. REPLACING DEFECTIVE MEMORY BLOCKS IN RESPONSE TO EXTERNAL ADDRESSES [P] . 韩国专利： KR101343224B1 . 2013-12-18

机译：响应于外部地址，替换有缺陷的内存块