退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN102620664B
专利类型发明专利
公开/公告日2014-06-11
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院理化技术研究所;
申请/专利号CN201110031653.2
发明设计人 袁宏韬;袁磊;彭钦军;崔大复;许祖彦;
申请日2011-01-28
分类号
代理机构北京法思腾知识产权代理有限公司;
代理人杨小蓉
地址 100190 北京市海淀区中关村北一条2号
入库时间 2022-08-23 09:19:30
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-06-11
授权
2012-09-26
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20110128
实质审查的生效
2012-08-01
公开
机译: 磁控溅射镀膜机及其提高磁场均匀性的方法
机译: 记录中膜厚检测装置,图像形成装置,记录中膜厚检测方法,记录中膜厚检测方法的程序以及记录中膜记录程序
机译: 光学膜厚测定方法,光学膜厚测定系统及光学膜厚测定程序其他
机译:新型厚度分布均衡方法的大型激光光学紧凑镀膜机
机译:一种改善多晶Ni衬底合成的纳米厚石墨膜均匀性的方法:从大谷物到小谷物
机译:一种新的超临界二氧化碳乳液和电镀液中镍的电镀方法,以提高镀膜的均匀性和硬度
机译:用于反应溅射的在线镀膜机沿传输方向的膜厚分布建模
机译:一种使用衍射光学检测几种结核标记物的新颖方法。
机译:光学组织学:一种可视化鼠标大脑的厚组织部分中的微脉管系统的方法
机译:一种最大膜厚均匀性实验参数优化算法
机译:一种检测雪冰表面云光学厚度和液滴尺寸的太阳反射方法