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基于硅/碳材料的PMOS与NMOS晶体管的性能提升

摘要

一种硅/锗材料和硅/碳材料可以根据适当的制造制度提供在不同导电类型(150P、150N)的晶体管,而不会不当地增加整体的工艺复杂度。再者,在形成相应的应变半导体合金(153)之前可以透过空腔(103P、103N)的暴露表面区域提供适当的植入物种,由此额外地提供增强的整体晶体管性能。在其他的实施例中,硅/碳材料可以形成在P沟道晶体管(150P)和N沟道晶体管(150N)中,同时在P沟道晶体管中,可以通过应力记忆技术而过度补偿相应的拉伸应变成分。于是,碳物种的有利的效果,例如增强P沟道晶体管的整体掺杂剂分布,可以结合有效的应变成分,同时可以达成提升的整体工艺一致性。

著录项

  • 公开/公告号CN102105977B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-06-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格罗方德半导体公司;

    申请/专利号CN200980129329.5

  • 申请日2009-07-31

  • 分类号

  • 代理机构北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 英国开曼群岛

  • 入库时间 2022-08-23 09:19:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-06-18

    授权

    授权

  • 2011-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/8238 申请日:20090731

    实质审查的生效

  • 2011-06-22

    公开

    公开

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