进行累加计算,得到整体可见度Vent;S4:将整体可见度Vent进行G矩阵校正得到校正后的整体可见度V′ent;S5:将校正后的整体可见度V′emt进行反演成像运算得到目标场景的亮温分布T。本发明提供方法可以使微波辐射测量系统的空间分辨率得到一个甚至多个数量级的提高,同时为微波辐射测量带来全新的应用方式。"/>
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-05-07
授权
授权
2013-02-27
实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 13/90 申请日:20120918
实质审查的生效
2013-01-16
公开
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