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二维综合孔径微波辐射计成像理论与方法研究

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摘要

本文在顺轨方向孔径综合技术的理论研究的基础之上,对星载二维成像综合孔径微波辐射计的成像理论进行了分析,讨论了二种不同的基线结构方案,并对相应的可见度函数采样方案和成像反演算法进行了讨论.最后通过数值模拟说明了本文提出的成像理论和基线结构方案具有可行性.

著录项

来源
《电子学报》 |2002年第5期|697-701|共5页
作者
黄永辉; 吴季;
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作者单位

中科院空间科学与应用研究中心,北京,100080;

中科院空间科学与应用研究中心,北京,100080;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类雷达探测;
关键词
综合孔径; 二维成像; 微波辐射计;

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