首页> 中国专利> 均匀圆阵列综合孔径辐射计亮温反演成像方法

均匀圆阵列综合孔径辐射计亮温反演成像方法

摘要

本发明公开的一种均匀圆阵列综合孔径辐射计亮温反演成像方法,旨在提供一种反演精度高,能够缩短反演计算时间的UCSAIR亮温反演成像方法。本发明通过下述技术方案实现:在建立谱域极坐标系下,以UCSAIR基线谱域极径从小到大为行序、基线谱域极角从小到大为列序,将对应的可见度函数排列成可见度函数矩阵形式;然后进行一维横向插值和横向FFT,再进行一维纵向插值,计算快速汉克尔变换格点对应数值,并进行纵向汉克尔变换,然后进行横向一维傅里叶逆变换,变换后的矩阵经过亮温标定即得到空间极坐标下观察空间各点亮温分布矩阵,根据亮温分布矩阵元素位置与空间方向对应关系显示亮温图像,实现亮温反演成像。

著录项

  • 公开/公告号CN111538000A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010233551.8

  • 发明设计人 黄建;裴乃昌;熊阳;

    申请日2020-03-30

  • 分类号G01S13/90(20060101);

  • 代理机构51121 成飞(集团)公司专利中心;

  • 代理人郭纯武

  • 地址 610036 四川省成都市金牛区茶店子东街48号

  • 入库时间 2023-12-17 11:24:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-14

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号