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集成厚度可控绝缘层的非接触电导检测微芯片制作方法

摘要

一种集成厚度可控绝缘层的非接触电导检测微芯片制作方法,属于微流控芯片制造技术领域。首先在玻璃基片上制作出非接触电导检测的检测电极,接着在检测电极的焊盘上固定上金属导线,然后利用匀胶机将聚二甲基硅氧烷(PDMS)和甲苯的混合物均匀涂在玻璃基片上形成一层PDMS绝缘层,通过调整PDMS和甲苯的体积配比以及匀胶机的转数,便可以精确控制PDMS绝缘层的厚度,最后再在PDMS绝缘层的上表面键合一片带有微沟道的PDMS便完成了整个微芯片的制作。本发明制作过程简单,成本低,利用对PDMS材料与甲苯溶液比例的改变以及匀胶机转速的变化,实现微流控芯片上的PDMS绝缘层厚度的精确控制,厚度最薄可以到达0.6μm。

著录项

  • 公开/公告号CN102641759B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN201210132614.6

  • 申请日2012-05-02

  • 分类号

  • 代理机构大连理工大学专利中心;

  • 代理人关慧贞

  • 地址 116024 辽宁省大连市凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:18:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-23

    授权

    授权

  • 2012-10-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):B01L 3/00 申请日:20120502

    实质审查的生效

  • 2012-08-22

    公开

    公开

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