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光学等折射条纹测量仪

摘要

一种光学等折射条纹测量仪,含有置于带标尺平移平台上的点光源,沿其点光源发射光束前进方向上依次置有半透反射镜、球面反射镜、放在载物台上供被测物体贴靠的靠板、编码板、第一成象透镜、散射分划板、第二成象透镜、滤光片至记录显示系统。本发明具有结构简单,能实时给出被测物体大口径范围上的光学性质的二维分布,能同时测定双焦、多焦和变焦镜片的各光学中心位置等,测量范围大而精度高。操作简单而可靠。

著录项

  • 公开/公告号CN1122835C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2003-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 刘立人;

    申请/专利号CN99124196.7

  • 发明设计人 刘立人;殷耀祖;

    申请日1999-12-02

  • 分类号G01M11/02;

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人李兰英

  • 地址 201800 上海市800-216邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 08:56:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-02-01

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 2003-10-01

    授权

    授权

  • 2000-08-09

    公开

    公开

  • 2000-07-12

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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