法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2013-12-04
授权
授权
2010-05-12
实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20080326
实质审查的生效
2009-12-30
公开
公开
机译: 形成曝光图案或掩膜的方法,程序的目的,制造半导体器件,曝光图案或掩膜的方法以及用其中存储的程序记录介质的方法
机译: 曝光方法,曝光装置,聚光图案形成部件,掩模和装置制造方法
机译: 曝光方法,曝光装置,聚光图案形成部件,掩模和装置制造方法