首页> 中国专利> 激光聚焦式测头测量微幅振动的方法及其使用的装置

激光聚焦式测头测量微幅振动的方法及其使用的装置

摘要

本发明为一种激光聚焦式测头测量微幅振动的方法及其使用的装置,其特征在于:将待测振动装置移动至激光聚焦式测头正下方,数据采集卡采集激光聚焦式测头的信号传输至数据处理器,数据处理器输出数字信号给数据采集卡后又转换成模拟信号输出给电动升降平台控制器,由其驱动电动升降平台在激光聚焦式测头焦平面附近移动,当待测振动装置开始振动时,其表面与激光聚焦式测头表面的距离变化,激光聚焦式测头信号相应发生变化,激光聚焦式测头信号的频率和波形就反应了振动装置的振动频率和波形,根据移动距离L和测头信号U之间的线性关系U=k*L+b,b是L为零时测头的输出信号,振幅为测头信号振幅的1/k倍。

著录项

  • 公开/公告号CN102829855B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-11-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海市计量测试技术研究院;

    申请/专利号CN201210322155.8

  • 发明设计人 刘一;潘良明;李矛;

    申请日2012-09-04

  • 分类号

  • 代理机构上海浦东良风专利代理有限责任公司;

  • 代理人陈志良

  • 地址 201203 上海市浦东新区张衡路1500号

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-11-06

    授权

    授权

  • 2013-02-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01H 9/00 申请日:20120904

    实质审查的生效

  • 2012-12-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号