首页> 中国专利> 一种支持光器件寿命预测和失效原因分析的装置和方法

一种支持光器件寿命预测和失效原因分析的装置和方法

摘要

本发明涉及光通信领域,本发明公开了一种支持光器件寿命预测和失效原因分析的装置,包括处理器CPU、存储器、光模块状态采集单元、光模块通讯接口,所述处理器CPU分别与所述存储器、光模块状态采集单元、光模块通讯接口连接;所述处理器CPU用于根据光模块的寿命参数和运行参数进行判断,并以判断结果为依据预测出光模块的寿命;所述存储器用于保存光模块的寿命参数和运行参数;所述光模块状态采集单元用于采集光模块的运行参数;所述光模块通讯接口用于与外部管理端的通讯。本发明还公开了一种支持光器件寿命预测和失效原因分析的方法,处理器CPU根据光模块的寿命参数和运行参数,计算出光模块当前所处的寿命阶段,作为是否需要更换光模块的依据,有效预测出光模块的寿命,同时存储的光模块运行参数可作失效原因的统计分析使用。

著录项

  • 公开/公告号CN102323505B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都新易盛通信技术股份有限公司;

    申请/专利号CN201110234049.X

  • 发明设计人 黄晓雷;曹阳;

    申请日2011-08-16

  • 分类号

  • 代理机构四川力久律师事务所;

  • 代理人林辉轮

  • 地址 610041 四川省成都市高新区高朋大道21号海特工业园2号楼5楼

  • 入库时间 2022-08-23 09:16:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-09-25

    授权

    授权

  • 2013-09-25

    著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/00 变更前: 变更后: 申请日:20110816

    著录事项变更

  • 2012-03-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20110816

    实质审查的生效

  • 2012-01-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号